電子物理系専攻(電子材料コース)竹内准教授の論文“Nondestructive and quantitative evaluation of a GaAs epitaxial layer covered with a silicon nitride insulating thin film after a highly accelerated temperature and humidity stress with the use of photoreflectance spectroscopy” が世界最大の電気電子系学会である米国電気電子学会刊行学術雑誌IEEE Transactions on Device and Materials Reliability のTop Popular Article選出 (2023年6月1日) -オープンアクセスオプション付きでオンライン掲載中-
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Q2=上位2/4
Electrical & Electronic Engineering分野; Safety, Risk, Reliability and Quality分野; Electronic, Optical and Magnetic Materials分野

准教授: 竹内日出雄WEB Site (暫定)： http://www.ceres.dti.ne.jp/~hideo-t/index.html

論文誌URL (DOI)： https://doi.org/10.1109/TDMR.2022.3222783